ISO/IEC 17025:2005認定試験所のマシスは、最新の分析装置と高度な技術で信頼性の高い分析結果をお届けします。

報告書に記載されている定量限界・検出限界・分析用語

定量限界(Method Quantitation Limit : MQL)

適切な精確さをもって定量できる分析種(測定対象成分)の最低量または最小濃度
S/N (分析対象物のシグナルとベースラインノイズの比)=概ね10 となる分析対象物の試料中濃度

検出限界(Method Detection Limit : MDL)

試料に含まれる分析種(測定対象成分)の検出可能な最低量または最小濃度
S/N (分析対象物のシグナルとベースラインノイズの比)=3 となる分析対象物の試料中濃度
※定量限界の1/2~1/10の範囲

添加回収率(Marginal recovery)

試料に既知濃度の物質を添加し、処理後検出された濃度の割合
Marginal recovery ( % ) = 100(Cf-Cu)/CA
Cf : 添加後の濃度
Cu : 添加前の濃度
CA : 添加濃度

ブランク試験(Blank Test)

操作ブランク試験(試料のない状態での一連の操作データ測定)
 (試薬・器具・装置あるいは環境からの汚染が無いことを確認する試験 )
装置ブランク試験(試料のない状態でのデータ測定)
 (装置の汚染が無いことを確認する試験 )

標準物質(Reference Material : RM)

測定装置の校正、測定方法の評価又は、材料に値を付与する事に用いるために 1つ以上の特性値が十分に均一で、
適切に確定されている材料又は物質(JIS Q 0030:1997 , ISO Guide 30:1992)

質量(mass)とm/z

h = 水素の質量 (1H の monoisotopic mass) 1.007825 [u]
e = 電子の質量 0.000549 [u]
H+ の質量は h - e = 1.007276 [u]

分子質量 = M とすれば
H+ adduct
[M+H]+(1価イオン)の mass = M + h -e m/z = mass
[M+2H]2+(2価イオン)の mass = M + 2h - 2e m/z = mass/2
[M+nH]n+(n価イオン)の mass = M + n(h - e) m/z = mass/n
H-
[M-nH]n- mass = M - nh + ne m/z = mass/n = M - n(h - e)

S/N図

分析用語及び装置名略語